天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)賽達(dá)九緯路七號(hào)電子城大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園10號(hào)樓314-315室
主營(yíng):測(cè)試儀器
業(yè)務(wù)熱線:022-58530359
QQ:89244198
的幅度和相位測(cè)量對(duì)應(yīng)用在現(xiàn)代化無線和航空/系統(tǒng)設(shè)備中的器件至關(guān)重要。在設(shè)計(jì)階段,系統(tǒng)模擬需要高度的元件表征來保證系統(tǒng)滿足其性能要求。在生產(chǎn)制造中,的測(cè)量驗(yàn)證每一個(gè)元件是否滿足其公布的指標(biāo)。
S參數(shù)在射頻元件(如濾波器、放大器、混頻器、天線、隔離器和傳輸線)測(cè)量中使用為廣泛。測(cè)量結(jié)果能確定射頻器件在正向和反向傳輸信號(hào)時(shí)其以復(fù)數(shù)值(幅度和相位)表示的反射和傳輸性能。它們描述了射頻元件的線性特性,這對(duì)全系統(tǒng)模擬來說是有很有必要的一部分,但要對(duì)全系統(tǒng)做更加完全的模擬時(shí),僅僅進(jìn)行S參數(shù)測(cè)試是不夠的,諸如器件特性隨頻率變化而呈現(xiàn)出的幅度響應(yīng)不平坦性或相位響應(yīng)斜率的不恒定性等這些偏差都會(huì)引起嚴(yán)重系統(tǒng)性能下降。
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)是測(cè)定元件特性經(jīng)常使用的儀器。傳統(tǒng)VNA包含一個(gè)給被測(cè)器件(DUT)和多測(cè)量接收機(jī)提供激勵(lì)的射頻信號(hào)發(fā)生器,以測(cè)量信號(hào)在正向傳輸和反向傳輸時(shí)入射、反射和傳輸信號(hào)(圖1)。信號(hào)源在固定功率電平進(jìn)行掃頻以測(cè)量S參數(shù),而在固定頻率上對(duì)其功率掃描,可以測(cè)量放大器的增益壓縮和AM-PM轉(zhuǎn)換。這些測(cè)量能測(cè)定線性和簡(jiǎn)單非線性器件的性能。
對(duì)于基本的S參數(shù)和壓縮測(cè)試,信號(hào)源和調(diào)諧到相同的頻率。不過,通過使信號(hào)源和接收機(jī)頻率偏移,將接收機(jī)調(diào)諧至激勵(lì)頻率的整數(shù)倍,也能測(cè)出放大器的諧波性能。使信號(hào)源和接收機(jī)頻率偏移的能力同樣可以測(cè)量頻率轉(zhuǎn)換器件(如混頻器和變頻器)的幅度、相位和群延遲性能。
內(nèi)部信號(hào)源也可用于測(cè)試頻率轉(zhuǎn)換器件如混頻器或變頻器,測(cè)試時(shí)除輸入激勵(lì)之外還需要LO信號(hào)。第二個(gè)信號(hào)源對(duì)掃描LO測(cè)試十分有用,在測(cè)試時(shí)LO信號(hào)連同射頻輸入信號(hào)一起被掃描,但保證RF信號(hào)和LO信號(hào)的頻率差是固定的。這個(gè)方法常用于測(cè)量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號(hào)發(fā)生器相比,使用從VNA內(nèi)部信號(hào)源引出的信號(hào)作為L(zhǎng)O信號(hào)在測(cè)試速度上有幾位明顯的改善(使用PNA-X的測(cè)試速度比傳統(tǒng)方法的測(cè)試速度可5倍)。
吳經(jīng)理先生
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